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德国BMT WLI白光干涉仪
德国BMT WLI白光干涉仪 采用ACM 600 共焦显微镜可对物体的表面和结构进行非接触式的测量,评估和显示。装配不同的显微物镜,测量视场大小和精度也不同。视场
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应用光谱TranSpec Mirco白光干涉膜厚仪
。TranSpec Micro薄膜厚度测量仪和我们TranSpec和TranSpec Lite仪器一样采用白光干涉原理。为了测量非常小的点,TranSpec Micro使用装有实时显示相机的光纤耦合
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德国应用光谱TranSpec白光干涉膜厚仪
应用领域用于全球主要的汽车灯以及CD生产商进行有机膜厚测试。 TranSpec光谱仪结合创新的光电技术与强大的模拟/数字电子技术和最新的计算机技术。借助于灵活的光纤,TranSpec的应用
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德国应用光谱TranSpec Lite白光干涉膜厚仪
技术特点光学方法,非接触、无损测量,安全无辐射。快速膜厚分析,只需几毫秒即可获得测量结果膜厚测量范围 0.1 - 150 微米 ( 0.004 to 6 mil )极高的分析准确度,在整个厚度
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德国应用光谱Plasma Emission Messurement System白光干涉膜厚仪
等离子体发射测量在紫外线…近红外线范围可同时观察到等离子发射低压等离子沉积技术是一个客观的连续不断的过程,如PVD(物理气象沉积)是今天真正的问题之一。除了等离子体发射光的表观检查,有时也使用质
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白光干涉仪
。 延伸款白光干涉仪技术参数 • 花岗岩台和花岗岩柱 • 手控台XY(226 x232mm ,可移位范围76 x52mm ) • 延伸款白光干涉仪的探测头配有物镜转换器 • PC with MS
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WinWInTec白光干涉形貌仪
averaging, laboratory conditions, 1 million points after 3x3 denoising filter**Olympus 100x WLI
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进口德国BMT WLI VLA干涉仪
德国BMT WLI VLA干涉仪德国BMT WLI VLA干涉仪可快色准确的测量粗糙和镜面反射工件的表面轮廓。可用于测量平整度、波纹度、扭曲、台阶高度和多种其他表面特性。 技术参数:•光源
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进口德国BMT WLI Infra干涉仪
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白光干涉测厚仪Delta-NIR
干涉光,用反复校准的算法快速反演计算出薄膜的厚度。测量范围1nm-3mm,可同时完成多层膜厚的测试。对于100nm以上的薄膜,还可以测量n和k值。产品特点快速、准确、无损、灵活、易用、性价比高应用领域
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